MOS管參數(shù)解析及國(guó)內(nèi)外大廠技術(shù)對(duì)比

老虎說(shuō)芯|Tiger Chip|

2024-09-19 11:27:28 871

MOSFET的單位面積導(dǎo)通電阻和優(yōu)值系數(shù)(FOM)參數(shù)代表了MOSFET的性能，是各大MOSFET廠商產(chǎn)品參數(shù)展示的關(guān)鍵指標(biāo)，也是體現(xiàn)MOSFET芯片制造工藝核心技術(shù)能力的關(guān)鍵指標(biāo)。

通常來(lái)說(shuō)，MOS管的單位面積導(dǎo)通電阻值和優(yōu)值系數(shù)值越低表示其性能越好。而超低壓MOSFET不關(guān)注優(yōu)值系數(shù)，單位面積導(dǎo)通電阻值和漏極擊穿電壓之間存在取舍關(guān)系，因此對(duì)于超低壓MOSFET選取單位面積導(dǎo)通電阻值和漏極擊穿電壓作為比較指標(biāo)。

單位面積導(dǎo)通電阻(Ronsp)，主要用于衡量功率器件導(dǎo)通狀態(tài)下，單位面積的電阻值，數(shù)值越低表示單位面積功耗越低，電流密度越高；

漏極擊穿電壓(BVDSS)，是器件漏極所能承受的最高電壓，該數(shù)值越高越好，但是提高漏極擊穿電壓會(huì)導(dǎo)致單位面積導(dǎo)通電阻增加;

優(yōu)值系數(shù)(Ron*Qg)，導(dǎo)通電阻Ron決定了導(dǎo)通狀態(tài)下的靜態(tài)損耗，柵極電荷Qg決定了開(kāi)關(guān)損耗，通常用Ron與Qg的乘積來(lái)表征MOSFET器件的性能水品，該值越低代表技術(shù)水品越高。

根據(jù)各官方網(wǎng)站發(fā)布的產(chǎn)品關(guān)鍵參數(shù)以及性能，松下FCAB21890L、松下 FCAB22620L、英飛凌BSZ0506NSATMA1、英飛凌 IQE013N04LM6、英飛凌 IAUT260N10S5N019、英飛凌IPA60R160P7 可代表其同類(lèi)型產(chǎn)品的國(guó)際*技術(shù)水平。

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